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CAD光標(biāo)的撲捉命令Snap(SN)

時(shí)間:2012-02-24 14:05:02 來源:未知

1.命令格式

命令行:Snap(SN)

菜  單:[工具]→[草圖設(shè)置(F)]

 

SNAP命令可設(shè)置光標(biāo)以用戶指定的X、Y間距作跳躍式移動(dòng)。通過光標(biāo)捕捉模式的設(shè)置,可以很好地控制繪圖精度,加快繪圖速度。

 

2.操作步驟

執(zhí)行Snap命令后,系統(tǒng)提示:

捕捉關(guān)閉, x和y = 10:打開 (ON)/旋轉(zhuǎn)(R)/樣式(S)/特征(A)/<捕捉間距>:指定光標(biāo)捕捉間距,或選擇其它選項(xiàng)。其中:

關(guān)閉(OFF)/  打開(ON):    關(guān)閉/打開光標(biāo)捕捉模式。單擊窗口下方狀態(tài)欄上的【捕捉】按鈕,按【F9】鍵也可打開關(guān)閉/打開光標(biāo)捕捉模式。

旋轉(zhuǎn)(R):該選項(xiàng)可指定一個(gè)角度,使十字光標(biāo)連同捕捉方向以指定基點(diǎn)為軸旋轉(zhuǎn)該角度。

樣式(S):設(shè)置光標(biāo)捕捉樣式。

特征(A):設(shè)置水平間距和豎直間距。

 

捕捉的設(shè)置也可通過草圖設(shè)置對(duì)話框完成:如圖6-3所示:

 

勾選啟用捕捉

 

 

 

等軸測(cè)捕捉/柵格:可利用等軸測(cè)捕捉和柵格操作來生成二維軸測(cè)圖。利用等軸測(cè)操作,你可以用繪制二維平面的方法來繪制三維視圖,類似于在紙上作圖,不要將軸測(cè)圖等同于三維制圖,只有在三維空間才能生成三維視圖。

      

       等軸測(cè)方式總是用三個(gè)預(yù)設(shè)平面,稱作左、右、頂視圖,這些平面的設(shè)置是不可改變的,若捕捉角度為0度,則三個(gè)等軸測(cè)軸為30度、90度和150度。

      

       當(dāng)選用等軸測(cè)捕捉和柵格操作并選擇一個(gè)等軸測(cè)平面時(shí),捕捉間距,柵格及十字光標(biāo)線均排定在當(dāng)前等軸測(cè)平面;柵格總是顯示為等距,并用Y坐標(biāo)來計(jì)算柵格尺寸,若同時(shí)選擇了正交繪圖模式,則程序限定只能繪制對(duì)象在當(dāng)前等軸測(cè)平面上。

 

打開等軸測(cè)捕捉和柵格操作:

1)執(zhí)行settings命令, 或者下拉菜單[工具]→[草圖設(shè)置],彈出草圖設(shè)置對(duì)話框。

2)找到對(duì)話框左下角的捕捉類型和樣式欄,缺省狀態(tài)下是矩形捕捉。

3)在矩形捕捉下方,單擊選擇等軸測(cè)捕捉。

4)單擊草圖設(shè)置對(duì)話框下方的確定按鈕。

5)單擊F5,可以轉(zhuǎn)換操作的等軸平面(左、右或頂軸測(cè)面)。

3. 注意@

1)用戶可將光標(biāo)捕捉點(diǎn)視為一個(gè)無形的點(diǎn)陣,點(diǎn)陣的行距和列距為指定的X、Y方向間距,光標(biāo)的移動(dòng)將鎖定在點(diǎn)陣的各個(gè)點(diǎn)位上,因而拾取的點(diǎn)也將鎖定在這些點(diǎn)位上。

2)設(shè)置光標(biāo)的捕捉模式可以很好地控制繪圖精度。例如:一幅圖形的尺寸精度是精確到十位數(shù)。這時(shí),用戶就可將光標(biāo)捕捉設(shè)置為沿X、Y方向間距為10,打開SNAP模式后,光標(biāo)精確地移動(dòng)10或10的整數(shù)倍距離,用戶拾取的點(diǎn)也就精確地定位在光標(biāo)捕捉點(diǎn)上。如果是建筑圖紙,可設(shè)為500、1000或更大值。

3)光標(biāo)捕捉模式不能控制由鍵盤輸入坐標(biāo)來指定的點(diǎn),它只能控制由鼠標(biāo)拾取的點(diǎn)。

4)在任何時(shí)候切換捕捉開關(guān),可以單擊狀態(tài)條中的“捕捉”按鈕或按F9。

5)柵格及捕捉設(shè)置是保證繪圖準(zhǔn)確的有效工具。柵格和捕捉是獨(dú)立的,雖然將柵格尺寸和捕捉尺寸匹配很有幫助,但實(shí)際使用中設(shè)置并不總是匹配的。

6)等軸測(cè)平面間切換,按F5或Ctrl+E


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